我們製備的低阻值鋁奈米薄膜(其在低溫下的正常態電阻小於量子電阻h⁄((4e^2 ) )的5%)顯示出與眾不同的特性。這種低阻值特性使我們的樣品遠離了Goldman團隊觀察到的絕緣態與超導態之間的相變。換句話說,我們觀察到的Tc隨著薄膜厚度增加而降低的現象,並不與Goldman團隊的研究結果相矛盾。此外,我們的實驗結果還揭示了一個重要的發現:即鋁奈米薄膜的超導臨界溫度與其基板相依性,並不是由晶格形變、正常態電阻或晶體結構的變化所引起。
參考文獻
[1] Y. Liu, D. B. Haviland, B. Nease, and A. M. Goldman, Phys. Rev. B 47, 5931 (1993).
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